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简介：白光干涉薄膜厚度测量仪Delta利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。

简介：TF200白光干涉测厚仪利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速...

简介：MarSurfWI系列是Mahr研发光学3D表面轮廓仪产品，是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器

简介：Profilm3D/Profilm3D-200价格合理、的光学轮廓仪

简介：白光干涉仪是一种对光在两个不同表面反射后形成的干涉条纹进行分析的仪器

简介：产品简介DCM8光学表面测量系统-3d形貌测量显微镜什么是3d形貌测量显微镜？3D形貌显微镜是一种用于材料科学、机械工程领域的分析仪器，具有图像快速处理、分析和测量功能，可提供高衬度、高分辨率、大...

简介：SuperViewW1国产3D白光干涉仪结合精密Z向扫描模块、3D建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的...

简介：SuperViewW1白光干涉三维光学轮廓仪分辨率0.1μm，重复性0.1%，应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，适用于各种产品、部件和材料表面...

简介：SuperViewW1中图白光干涉仪采用的是非接触式光学测量，在获得实时数据的同时，不会对产品造成任何损伤，从而有效节约了生产成本，提高了生产效率，并且在线检测，没有滞后性，从而减少不合格品，对表...

简介：TranSpecMicro薄膜厚度测量新的光纤耦合TranSpecMicro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色相机实时查看。Tr...