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简介：FischerX荧光射线测厚仪，菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE?-X-RAYXDL-210设计理念

简介：菲希尔XDLM-pcb220X射线荧光测厚仪FISCHERSCOPEX-RAYXDLM-PCB220是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。微聚焦X射线管配合比例接收...

简介：德国费希尔x射线荧光测厚仪XDL230FISCHERSCOPEX-RAYXDL230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时...

简介：德国宏德X射线荧光镀层测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任...

简介：XU-100X荧光光谱测厚仪高精尖检测技术，搞定企业品质管控！XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快...

简介：高性价比上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件

简介：国nei首chuang、全qiu领xian的多导毛细管技术，轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析，在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势主要利用X射线全...

简介：X荧光ROHS设备主要由激发源X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测...

简介：Fischer测厚仪代理，从1953年至今，菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。

简介：Fischerscope-XAYXDL230，XDL型镀层测厚及材料分析仪作为受保护的仪器，型式许可符合德国“DeutscheR?ntgenverordnung-R?V”法规的规定。