利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制
利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
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