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WLP-208平均粒度测定仪

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WLP-208平均粒度测定仪:该仪器是在WLP-205仪器基础上增加了一套压力校正器

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  WLP-208平均粒度测定仪:该仪器是在WLP-205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料很容易的压紧到规定的压力上(国际通用50磅力·吋即22.7kgf·cm),从而使测试更加简便、性能稳定、重复性好,其他主要技术指标与WLP-205型平均粒度测定仪相同。

  主要技术指标

  1、粒度测量范围:0.2μm(微米)─50μm(微米)
  2、孔隙度范围:0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95
  3、精度:3%
  4、工作环境:相对湿度不大于80%,温度:25±10℃
  5、电源:∽220±22v50-60Hz
  6、功率:30w
  7、重量:28Kg
  8、外型尺寸:735×414×244mm3


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